1、單點校準

 

　　單點校準是一種標準校準過程，不需要箔片，該過程通過盡可能靠近測量點施加在非涂層測試件上進行。該校準程序只有一個參考點，該參考點是零值，因此標簽為“一點”。

 

　　2、箔校準（兩點校準）

 

　　此校準程序使用具有已知厚度的校準箔。首先，進行一點校準程序，然后將箔片放置在未涂層的測試件上。然后將探頭放置在相同的測量區(qū)域，然后使用設備上的指針來更改顯示的厚度值，直到這對應于箔片的厚度值。

 

　　當用戶需要更高的精度時，通常選擇此過程而不是單點校準。為了實現(xiàn)這一點，箔片的厚度需要略大于測試對象的層厚度。

 

　　3、雙箔校準

 

　　通常用于更困難的厚度測試程序，雙箔校準程序需要兩個不同厚度的箔（這些箔通常是刻度的，箔片一個約為測試物體厚度的0.5倍，第二個約為1.0x物體厚度）。這種校準方法利用探頭的兩個參考點，與較厚和較薄的值相關。

 

　　該工藝常用于粗糙或不均勻的材料。

 

　　4、超聲波校準

 

　　校準超聲波測厚儀的標準程序是使用經(jīng)批準的校準塊來檢查壓力表的線性度;塊的尺寸范圍從1.5毫米到50毫米。典型的程序包括使用不同的mm塊進行4-5個單獨的測試，以確保一致性。將探頭放置在校準塊上的區(qū)域，一旦聲音穿透到塊的背面，就會從中發(fā)射和接收聲波;然后重復此測試，從較薄的塊開始，并在每次連續(xù)測試后向上移動到較厚的塊。